SN74LVTH18646APM

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Herstellerteil

SN74LVTH18646APM

Hersteller
Texas
Beschreibung
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Kategorie
integrierte Schaltkreise
Familie
Logik - Speziallogik
Serie
-
Auf Lager
117
Datenblätter online
-
Anfrage
  • Serie:74LVTH
  • Paket:Tray
  • Teilstatus:Active
  • logischer Typ:ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
  • Versorgungsspannung:2.7V ~ 3.6V
  • Anzahl Bits:18
  • Betriebstemperatur:-40°C ~ 85°C
  • Befestigungsart:Surface Mount
  • Paket / Koffer:64-LQFP
  • Gerätepaket des Lieferanten:64-LQFP (10x10)
Versand Lieferzeitraum Bei vorrätigen Teilen werden Bestellungen voraussichtlich in 3 Tagen versandt.
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Rückgabe / Garantie Rückkehr Rücksendungen werden normalerweise akzeptiert, wenn sie innerhalb von 30 Tagen ab Versanddatum abgeschlossen sind. Bitte wenden Sie sich an den Kundendienst, um eine Rücksendegenehmigung zu erhalten.
Teile sollten unbenutzt und originalverpackt sein.
Die Versandkosten trägt der Kunde.
Garantie Alle Einkäufe werden mit einem 30-tägigen Geld-zurück-Recht sowie einer 90-tägigen Garantie gegen Herstellungsfehler geliefert.
Diese Garantie gilt nicht für Artikel, bei denen Mängel durch unsachgemäße Montage durch den Kunden, Nichtbeachtung der Anweisungen durch den Kunden, Produktmodifikation, fahrlässige oder unsachgemäße Bedienung verursacht wurden

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Produktkategorie

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