SN74LVTH18502APM

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Herstellerteil

SN74LVTH18502APM

Hersteller
Texas
Beschreibung
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Kategorie
integrierte Schaltkreise
Familie
Logik - Speziallogik
Serie
-
Auf Lager
139
Datenblätter online
-
Anfrage
  • Serie:74LVTH
  • Paket:Tray
  • Teilstatus:Active
  • logischer Typ:ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
  • Versorgungsspannung:2.7V ~ 3.6V
  • Anzahl Bits:18
  • Betriebstemperatur:-40°C ~ 85°C
  • Befestigungsart:Surface Mount
  • Paket / Koffer:64-LQFP
  • Gerätepaket des Lieferanten:64-LQFP (10x10)
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Die Versandkosten trägt der Kunde.
Garantie Alle Einkäufe werden mit einem 30-tägigen Geld-zurück-Recht sowie einer 90-tägigen Garantie gegen Herstellungsfehler geliefert.
Diese Garantie gilt nicht für Artikel, bei denen Mängel durch unsachgemäße Montage durch den Kunden, Nichtbeachtung der Anweisungen durch den Kunden, Produktmodifikation, fahrlässige oder unsachgemäße Bedienung verursacht wurden

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Produktkategorie

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